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贝特莱协办出席“深圳晶芯研讨会-集成电路应用创新发展论坛”

作者:贝特莱科技    2020-04-26

 4月15日,由半导体芯科技杂志社联合两江半导体研究院主办,贝特莱等企业协办的“深圳晶芯研讨会-集成电路应用创新发展论坛”在广东深圳成功召开。

   众多IC设计行业工程师、芯片生产商/代理商、组装设备与材料、OEM/EMS工厂等齐聚一堂,共同探讨集成电路的设计、封装以及产品可靠性。


幸运彩票有限公司IC设计总监张敏作为重量级演讲嘉宾出席会议。

    张敏为参会伙伴们带来了《人机交互与生物识别技术的发展与应用》主题报告。他表示,  触控芯片面临各种噪声干扰,而且这一问题在AMOLED触控中变得更加严重。贝特莱提出的噪声处理系统,能有效处理各种噪声,提高信噪比。此外,贝特莱针对智能穿戴市场推出的触控IC也在同类产品中实现了最优功耗,受到市场广泛好评。

    同时,张敏博士也列举实际案例展示了贝特莱嵌入式指纹识别解决方案的优势,并对市场上的应用方案及参数做了详尽的分析与对比。贝特莱指纹识别解决方案以高解析度、低功耗、高性价比、稳定可靠等优点在行业内脱颖而出,台下观众纷纷鼓掌。

   

 本次论坛圆满落下帷幕,通过多家企业的演讲汇报和现场的技术交流,大家一致认为,中国的IC设计水平从追赶国际最先进水平,到今天在个别领域世界领先。未来,更应持续创新,根据应用需求研发新的产品和技术,找到新的解决方案,创新是集成电路行业良性发展的基础。


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